Convertidor analógico a digital de 16 bits dual ADC16DX370 de Texas Instruments
El convertidor analógico a digital de 16 bits dual ADC16DX370 de Texas Instruments es un convertidor analógico a digital monolítico de alto rendimiento, con canal dual con capacidad para convertir señales de entrada analógicas en palabras digitales de 16 bits con una velocidad de muestreo de 370 MSPS. Este convertidor utiliza una arquitectura multifase diferencial con búfer de entrada integrado para proporcionar un rendimiento dinámico excelente mientras mantiene un bajo consumo energético. El búfer de entrada integrado elimina el ruido de retroceso de carga procedente de los circuitos de muestreo con condensador conmutado interno y facilita el diseña al nivel de sistema del amplificador de accionamiento, filtro antialiasing y adaptación de impedancia. Un divisor de reloj de muestreo de entrada proporciona relaciones de división enteras con selección de fase configurable para simplificar la sincronización del sistema. Una referencia de tensión de bajo ruido integrada facilita el diseño al nivel de la placa sin necesidad de condensadores de desacoplamiento externas. Los datos de salida digitales se proporcionan a través de una interfaz subclase 1 JESD204B desde un paquete WQFN de 8 mm × 8 mm de 56 pines. Se incluye un SPI para configurar el dispositivo, compatible con lógica de 1,2 V a 3,0 V.
Características
Resolución: 16 bits
Velocidad de conversión: 370 MSPS
Intervalo de escala completa de entrada de 1,7 VP-P
Rendimiento:
Entrada: 150 MHz, -3 dBFS
SNR: 69,6 dBFS
Densidad espectral del ruido: -152,3 dBFS/Hz
SFDR: 88 dBFS
SPUR sin HD2 y sin HD3: -90 dBFS
Disipación de potencia: 800 mW/canal
Entradas analógicas almacenadas en búfer
Referencia de precisión en el chip sin derivación externa
Divisor de reloj de muestreo de entrada con sincronización de fase (División 1, 2, 4 o 8)
Interfaz de datos en serie subclase 1 JESD204B
Velocidades de línea hasta 7,4 Gb/s
Configurable como 1 o 2 líneas/carril
Señales rápidas con exceso de rango
Interfaz para periféricos en serie (SPI) compatible de 4 cables de 1,2 V, 1,8 V, 2,5 V o 3 V
Paquete WQFN de 56 pines, (8 × 8 mm, inclinación de pines de 0,5mm)
Aplicaciones
Receptores de muestreo de IF alta
Receptores de estación base multiportadora
GSM/EDGE, CDMA2000, UMTS, LTE, WiMax
Receptores Diversity, multimodo y multibanda
Predistorsión digital
Equipos de pruebas y medición
Comunicaciones e instrumentación
Instrumentación portátil
Diagrama de bloques
Módulo de evaluación ADC16DX370EVM
TI ADC16DX370EVM es una placa de evaluación que se utiliza para evaluar el ADC ADC16DX370. Esta placa de evaluación incluye:
Una red de entrada de señales acopladas con transformador que permite una fuente de señales de extremo único de 5 MHz a 1 GHz.
Un generador de reloj del sistema LMK04828 que genera relojes de referencia FPGA para la interfaz en serie de alta velocidad y puede servir para generar el reloj de muestreo del ADC.
Una red de entrada de reloj acoplada con transformador para probar el rendimiento del ADC con una fuente de reloj de muy bajo ruido.
Una salida de datos en serie de alta velocidad a través de un conector de interfaz FMC estándar.
Programación del registro de dispositivos a través de conector USB y traductor de bus USB a SPI FTDI.
La captura de los datos digitales de la placa ADC16DX370EVM puede realizarse de forma rápida y sencilla con el TSW14J56EVM.
