SN74ABT8245 Serie Lógica de función de especialidad

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Cant. RoHS Modelo ECAD Producto
Serie
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Temperatura operativa máxima
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Empaquetado
Texas Instruments Lógica de función de especialidad Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
Hoja de datos
13En existencias
Mín.: 1
Múlt.: 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Lógica de función de especialidad Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
Hoja de datos
Comentarios de Producto
75En existencias
Mín.: 1
Múlt.: 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Lógica de función de especialidad Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
Hoja de datos
No en almacén Plazo producción 6 Semanas
Mín.: 2.000
Múlt.: 2.000
Bobina: 2.000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel