Placa de evaluación RD33774ADSTEVB
La placa de evaluación RD33774ADSTEVB de NXP Semiconductors es un diseño de Unidad de Monitorización Celular (CMU) con un Enlace Eléctrico de Protocolo de Transporte (ETPL). Esta placa de evaluación contiene un circuito integrado (CI) controlador de celdas de batería MC33774A en una conexión en cadena. La placa de evaluación RD33774ADSTEVB incorpora dispositivos de sistema en paquete que utilizan tecnología de alto volumen. Esta placa de evaluación es compatible con una amplia gama de soluciones analógicas, de señal mixta y de alimentación. La placa de evaluación RD33774ADSTEVB realiza la conversión analógica-digital en las tensiones y corrientes diferenciales de la celda.
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