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TPD3S714-Q1EVM

Name: Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPD3S714-Q1EVM
Price: 83.85 EUR
Availability: InStock

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Mouser REF:

595-TPD3S714-Q1EVM

Fabr. N.º:

TPD3S714-Q1EVM

Fabr.:

Texas Instruments

Descripción:

Herramientas de desarrollo IC de gestión de energía TPD3S714-Q1EVM

Hoja de datos:

TPD3S714-Q1EVM Hoja de datos (PDF)

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Más información sobre Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM

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	83,85 €	83,85 €

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Atributo del producto	Valor del atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Texas Instruments
Categoría de producto:	Herramientas de desarrollo IC de gestión de energía
RoHS:
Producto:	Evaluation Modules
Tipo:	Power Management Specialized
Voltaje de entrada:	3.3 V, 5 V
La herramienta es para la evaluación de :	TPD3S714-Q1
Serie:	TPD3S714
Marca:	Texas Instruments
País de ensamblaje:	Not Available
País de difusión:	Not Available
País de origen:	US
Descripción/Función:	Evaluation module for TPD3S714-Q1 USB 2.0 interface protection with short to battery and short to ground
Tipo de interfaz:	USB
Temperatura operativa máxima:	+ 125 C
Temperatura operativa mínima:	- 40 C
Tipo de producto:	Power Management IC Development Tools
Cualificación:	AEC-Q100
Cantidad del paquete de fábrica:	1
Subcategoría:	Development Tools

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Hoja de datos

TPD3S714-Q1EVM Hoja de datos (PDF)

TARIC:: 8473302000
CNHTS:: 8543709990
USHTS:: 8473301180
MXHTS:: 8473300499
ECCN:: EAR99

TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed for the evaluation of the TPD3S714-Q1, a USB 2.0 interface protection IC. The evaluation module contains four TPD3S714-Q1's (U1, U2, U3, and U4). U1 is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 & USB2) for capturing system-level tests. U2 is configured with 4 SMA (S1 - S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. U3 is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. U4 is pinned out for device-level tests.