STGF15M65DF2

STMicroelectronics
511-STGF15M65DF2
STGF15M65DF2

Fabr.:

Descripción:
IGBT Trench gate field-stop IGBT M series, 650 V 15 A low loss

Modelo ECAD:
Descargue el Cargador de bibliotecas gratuito para convertir este archivo para su herramienta ECAD. Obtenga más información del modelo ECAD.

En existencias: 140

Existencias:
140 Puede enviarse inmediatamente
Plazo de producción de fábrica:
15 Semanas Tiempo estimado para la producción en fábrica para cantidades superiores a las mostradas.
Mínimo: 1   Múltiples: 1
Precio unitario:
-,-- €
Precio total:
-,-- €
Tarifa estimada:

Precio (EUR)

Cant. Precio unitario
Precio total
1,75 € 1,75 €
0,848 € 8,48 €
0,754 € 75,40 €
0,604 € 302,00 €
0,553 € 553,00 €
0,522 € 1.044,00 €
0,484 € 2.420,00 €

Atributo del producto Valor del atributo Seleccionar atributo
STMicroelectronics
Categoría de producto: IGBT
RoHS:  
Si
TO-220FP-3
Through Hole
Single
650 V
1.55 V
- 20 V, 20 V
30 A
31 W
- 55 C
+ 175 C
STGF15M65DF2
Tube
Marca: STMicroelectronics
Corriente continua del colector Ic Máx.: 30 A
Corriente de fuga puerta-emisor: +/- 250 uA
Tipo de producto: IGBT Transistors
Cantidad del paquete de fábrica: 1000
Subcategoría: IGBTs
Peso unitario: 2,300 g
Productos encontrados:
Para mostrar productos similares, seleccione al menos una casilla
Seleccione al menos una casilla para mostrar productos similares dentro de esta categoría.
Atributos seleccionados: 0

TARIC:
8541290000
CNHTS:
8541290000
CAHTS:
8541290000
USHTS:
8541290065
JPHTS:
8541290100
KRHTS:
8541299000
MXHTS:
8541299900
ECCN:
EAR99

STM 650V M Series Trench Gate Field-Stop IGBTs

STMicroelectronics 650V M Series Trench Gate Field-Stop IGBTs are developed using an advanced proprietary trench gate field-stop structure. STMicroelectronics 650V M series supply a 3A-150A maximum collector current for applications with up to 100kHz operating frequency. The IGBTs have an optimized design and are available in a tailored built-in anti-parallel diode. A positive VCE(sat) temperature coefficient and tight parameter distribution result in safer paralleling operation.