TPS548B22EVM-847

Texas Instruments
595-TPS548B22EVM-847
TPS548B22EVM-847

Fabr.:

Descripción:
Herramientas de desarrollo IC de gestión de energía OFFICIAL EVM FOR TPS 548B22

Disponibilidad

Existencias:
0

Aún puede comprar este producto como pedido pendiente.

Plazo de producción de fábrica:
12 Semanas Tiempo estimado para la producción en fábrica.
Mínimo: 1   Múltiples: 1   Máximo: 5
Precio unitario:
-,-- €
Precio total:
-,-- €
Tarifa estimada:

Precio (EUR)

Cant. Precio unitario
Precio total
54,78 € 54,78 €

Atributo del producto Valor del atributo Seleccionar atributo
Texas Instruments
Categoría de producto: Herramientas de desarrollo IC de gestión de energía
RoHS: N
Evaluation Modules
Voltage Regulator - Switching Regulator
5 V to 14 V
1 V
TPS548B22
TPS548B22-847
Marca: Texas Instruments
Descripción/Función: Evaluates the TPS548B22 synchronous buck converter
Temperatura operativa máxima: + 85 C
Temperatura operativa mínima: 0 C
Corriente de salida: 25 A
Tipo de producto: Power Management IC Development Tools
Cantidad del paquete de fábrica: 1
Subcategoría: Development Tools
Nombre comercial: SWIFT
Peso unitario: 286,055 g
Productos encontrados:
Para mostrar productos similares, seleccione al menos una casilla
Seleccione al menos una casilla para mostrar productos similares dentro de esta categoría.
Atributos seleccionados: 0

Códigos de cumplimiento
TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99
Clasificaciones de origen
País de origen:
Estados Unidos
País de origen del ensamblaje:
No disponible
País de difusión:
No disponible
El país puede cambiar en el momento del envío.

TPS548B22EVM-847 Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPS548B22EVM-847 Evaluation Module (EVM) helps designers evaluate the TPS548B22. The TPS548B22 is a D-CAP3™ mode, 25A synchronous buck converter with integrated MOSFETs. This device provides a fixed 1.0V output at up to 25A from a 12V input bus. The evaluation module demonstrates the TPS548B22 in a typical low-voltage application while proving a number of test points to evaluate the device's performance.